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雷达物位计用于低介电常数的测量
2015-12-18 14:34:31 来源：北京时代海创雷达物位计用于低介电常数的测量
选择物料性质为微DK时,一般用于介电常数小于1 . 4 ,这时介质表面的直接回波很弱,
或不能测量,而通过罐底反射的方法可以测得料位高度这时需要输入以下参数中的两个: 1 .空罐空高,空罐或空容器的空高值 。
2 .真实料高或待测物质的介电常数 ，这两参数关联 ，输入其中之一即可 。以上参数
的精度直接影响测量结果的精度值注 ： “微DK”的选择要慎重,大多测量是不合适
的,当 “微DK”选择后,系统根据回波情况,判断采用直接回波法或底部反射法来得
到测量结果 。
雷达物位计的阻尼时间
为抑制因液面波动起伏引起的测量显示的变化跳动，可设定适当的显示阻尼时间（范围
在0~999秒），既保证有足够的测量响应时间，又能使传感器在延时后反映出变化的测
量值。一般设定几秒的时间就足以使测量值稳定显示。
当液晶显示菜单号为1-3时 ，进入阻尼时间设置菜单,液晶显示如下图：
注：我们公司是物位仪表的生产厂家，雷达物位计是统称，如果测量液位我们称呼它为雷达液位计，如果测量固体我们称它为雷达料位计，我们这款是液体固体通用的所以也可以叫做雷达物位计。如果想了解价格问题请致电我们销售代表。同时我们公司也是超声波探伤仪，磁粉探伤仪的主要生产厂家之一。
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