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超声波探伤仪缺陷回波探伤新法
2015-11-23 12:48:56超声波探伤仪缺陷回波探伤新法
基本原理，当试件完好时，超声波可顺利传播到达底面，探伤图形中只有表示发射脉冲T及底面回波B两个信号，若试件中存在缺陷，在探伤图形中，底面回波前有表示缺陷的回波F.
底波高度法：依据底面回波的高度变化判断试件缺陷情况的探伤方法，称为底波高度法。
底波高度法的特点在于同样投影大小的缺陷可以得到同样的指示，而且不出现盲区，但是要求被探试件的探测面与底面平行，耦合条件一致。由于该方法检出缺陷定位、定量不便，灵敏度较低，因此，实际中很少作为一种独立的探伤方法，而经常作为一种辅助手段，配合缺陷回波法发现某些倾斜的和小而密集的缺陷。
多次底波法：依据底面回波次数，而判断试件有无缺陷的方法，即为多次底波法。
多次底波法主要用于厚度不大、形状简单、探测面与底面平行的试件探伤，缺陷检出的灵敏度低于缺陷回波法。
定义： 衍射时差法超声检测
TOFD 方法利用缺陷端点的衍射波信号探测和测量缺陷的尺寸
TOFD基本结构：一发一收双探头
宽角度纵波斜探头（通常）
超声波探伤仪缺陷上的每一点形成新的子波源称为衍射
- 表面开口裂纹
- X形坡口根部未焊透
- V形坡口根部未焊透
- 密集气孔
- 横向裂纹
- 根部未焊满
- 层间未熔合
- 根部未熔合
- 根部凹陷
- 根部过厚
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